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本申请提供了一种半导体结构的检测方法、装置、电子设备及可读存储介质。其中，检测方法包括：将半导体结构的图像从RGB颜色空间映射至HSV颜色空间；确定半导体的图像在HSV颜色空间中的颜色分布；以及根据半导体结构的图像的颜色分布确定半导体结构的...
该专利属于长江存储科技有限责任公司所有，仅供学习研究参考，未经过长江存储科技有限责任公司授权不得商用。

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