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本发明提供一种超导逻辑器件时序参数的测量电路，包括第一输入接口单元、输出接口单元、分路器单元、至少两个第一缓冲器单元、至少一个第二缓冲器单元、至少一个第三缓冲器单元及至少两个第四缓冲器单元；分路器单元的输入端通过级联的至少两个第一缓冲器单元...
该专利属于中国科学院上海微系统与信息技术研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院上海微系统与信息技术研究所授权不得商用。

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