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一种半导体集成电路的测试装置，其特征在于：　　　　设有与被测试半导体集成电路进行信号交换的测试电路板以及配置在该测试电路板附近并与所述测试电路板连接的测试辅助装置；　　　　该测试辅助装置具有对被测试半导体集成电路所包含的数字电路进行测试的数...
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