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流量测量方法和基片处理装置制造方法及图纸
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文档序号:34089749
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本发明提供一种流量测量方法和基片处理装置,其能够利用分支气体配管进行分流,并高精度地测量流到处理室内的分支后的气体的流量。流量测量方法在基片处理装置中测量气体的流量,上述基片处理装置包括:供给气体的气体供给配管;从上述气体供给配管分支的多个...
该专利属于东京毅力科创株式会社所有,仅供学习研究参考,未经过东京毅力科创株式会社授权不得商用。
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