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半导体器件及其制作方法技术
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文档序号:34004872
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本发明公开了一种半导体器件及其制作方法。一种半导体器件包括:衬底,其包括第一NMOS区域和第二NMOS区域;第一晶体管,其包括安置在第一NMOS区域中的第一移位层,以及第二晶体管,其包括安置在第二NMOS区域中的第二移位层,其中,第一移位层...
该专利属于爱思开海力士有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过爱思开海力士有限公司授权不得商用。
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