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半导体结构以及半导体结构的形成方法技术
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文档序号:33995380
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本发明涉及一种半导体结构以及半导体结构的形成方法。其中,半导体结构,包括:衬底;第一晶体管,包括位于衬底内的第一沟道区域;第二晶体管,包括位于衬底内的第二沟道区域,第二沟道区域的面积与第一沟道区域的面积不同,且第一晶体管和第二晶体管具有公共...
该专利属于长鑫存储技术有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过长鑫存储技术有限公司授权不得商用。
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