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用于带电粒子显微镜的无磁场样品平面制造技术
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文档序号:33909201
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本文公开了一种用于带电粒子显微镜的可调节无磁场物镜。示例带电粒子显微镜至少包含:第一光学元件和第二光学元件,所述第一光学元件和所述第二光学元件布置在样品平面的相反侧上;第三光学元件,所述第三光学元件布置在所述样品平面周围;以及控制器,所述控...
该专利属于FEI公司所有,仅供学习研究参考,未经过FEI公司授权不得商用。
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