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提供了半导体器件及其形成方法。半导体器件包括：第一衬底；电容器，位于第一衬底内；二极管结构，位于邻近电容器的第一衬底内；以及第一互连结构，位于电容器和二极管结构上方。第一互连结构的第一导电通孔将电容器电耦接至二极管结构。至二极管结构。至二极...
该专利属于台湾积体电路制造股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过台湾积体电路制造股份有限公司授权不得商用。

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