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本公开实施例提供一种芯片的测试方法、系统、设备及存储介质，涉及半导体技术领域，用于解决相关技术中芯片的测试方法存在测试精度差的技术问题，该测试方法包括获取用于制作芯片的多个目标晶圆在CP测试中的多个测试项目的测试值；根据多个测试项目的测试值...
该专利属于长鑫存储技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过长鑫存储技术有限公司授权不得商用。

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