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真空处理装置的异物测定方法制造方法及图纸
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文档序号:33844114
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一种真空处理装置的异物测定方法,该真空处理装置具备:处理单元,其具有在内部具有处理晶片的处理室的真空容器、及将所述处理室内排气的排气泵;真空搬运单元,其具有搬运所述晶片的搬运室;和连接管,其具有在所述处理室与所述搬运室之间能够搬运所述晶片的...
该专利属于株式会社日立高新技术所有,仅供学习研究参考,未经过株式会社日立高新技术授权不得商用。
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