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本申请涉及集成电路测试技术领域，公开了一种面向集成电路测试的悬臂式探针及探针台，悬臂式探针包括连接件、悬臂梁和针尖；悬臂梁为长条型；针尖垂直固定连接于悬臂梁朝向集成电路器件的一面且靠近悬臂梁的自由端；连接件垂直于悬臂梁朝向集成电路器件的一面...
该专利属于深圳市卓汉材料技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市卓汉材料技术有限公司授权不得商用。

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