下载半导体工艺设备的技术资料

文档序号:33733517

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本发明提供一种半导体工艺设备,包括:工艺腔室及抽真空装置,工艺腔室包括发生腔、加工腔、第一通道以及分流通道,发生腔用于生成等离子体,加工腔用于进行晶圆的刻蚀工艺,第一通道的两端分别与发生腔和加工腔连通,加工腔位于第一通道的旁侧,分流通道的两...
该专利属于北京北方华创微电子装备有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过北京北方华创微电子装备有限公司授权不得商用。

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