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本实用新型涉及芯片测试技术领域，尤其为一种大容量芯片测试装置，包括底板，所述底板的端面设置有检测台，所述检测台的端面中心设置有卡槽，所述卡槽的内部设置有芯片安装台，所述检测台的正面设置有水平仪，所述检测台的端面并且基于卡槽对称设置有安装孔，...
该专利属于江西万年芯微电子有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过江西万年芯微电子有限公司授权不得商用。

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