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一种承载台及晶圆检测设备制造技术
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下载一种承载台及晶圆检测设备的技术资料
文档序号:33674034
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本实用新型提供了一种承载台,用于承载晶圆,包括本体、承载面、环形真空圈及若干个压缩空气出口,本体与晶圆接触的面为承载面,所述承载面上开设有至少两个环形真空圈,所述环形真空圈用于吸附所述晶圆,所述承载面上还开设有若干个压缩空气出口,用于让所述...
该专利属于上海华力微电子有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过上海华力微电子有限公司授权不得商用。
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