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本发明公开了一种基于存储器低功耗开关引脚的良率测试电路及方法，包括DFT模式控制模块、MBIST控制模块、系统电路模块和控制引脚连接模块，DFT模式控制模块，用于控制并设定LPD引脚的值并提供测试模式和系统模式的模式之间的切换信号ALL_T...
该专利属于四川创安微电子有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过四川创安微电子有限公司授权不得商用。

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