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文档序号:33536443

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本公开实施例涉及半导体领域,提供工艺配方及其生成方法以及生成系统、半导体制造方法,其中基于衍射的工艺配方的生成方法包括:提供基础工艺配方,基础工艺配方中的参数包括曝光波长以及曝光能量,基础工艺配方用于形成初始对准图形;进行至少一次反馈修正步...
该专利属于长鑫存储技术有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过长鑫存储技术有限公司授权不得商用。

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