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本发明提供一种半导体结构的制作方法,该方法包括以下步骤:提供一半导体层,半导体层包括位于顶层的硅层,硅层中设有第一沟槽,第一沟槽中设有二氧化硅填充层;形成多晶硅保护层于半导体层的预设区域表面,多晶硅保护层未遮盖第一沟槽;对半导体层进行湿法刻...该专利属于广州粤芯半导体技术有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过广州粤芯半导体技术有限公司授权不得商用。
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本发明提供一种半导体结构的制作方法,该方法包括以下步骤:提供一半导体层,半导体层包括位于顶层的硅层,硅层中设有第一沟槽,第一沟槽中设有二氧化硅填充层;形成多晶硅保护层于半导体层的预设区域表面,多晶硅保护层未遮盖第一沟槽;对半导体层进行湿法刻...