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基于目标点特征捕捉及跟踪的继电器接点超程测量方法技术
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下载基于目标点特征捕捉及跟踪的继电器接点超程测量方法的技术资料
文档序号:33434536
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本发明涉及一种基于目标点特征捕捉及跟踪的继电器接点超程测量方法,包括如下步骤:通过预实验获得像素距离和实际距离的归一化转换公式;通过高速图像采集器对被测继电器吸合及释放的过程进行拍摄,获取一序列的初始图像;对初始图像进行图像处理,识别出动静...
该专利属于河北工业大学所有,仅供学习研究参考,未经过河北工业大学授权不得商用。
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