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用于蚀刻临界尺寸控制的非共形高选择性膜制造技术
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下载用于蚀刻临界尺寸控制的非共形高选择性膜的技术资料
文档序号:33343453
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说明一种在半导体装置中用于蚀刻方法的非共形、高选择性衬垫。一种方法包括在基板上形成膜堆叠;蚀刻膜堆叠以形成开口;在开口中沉积非共形衬垫;从开口的底部蚀刻非共形衬垫;以及相对于非共形衬垫选择性蚀刻膜堆叠以形成逻辑或存储器孔洞。非共形衬垫包括硼...
该专利属于应用材料公司所有,仅供学习研究参考,未经过应用材料公司授权不得商用。
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