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一种半导体封装结构及其形成方法技术
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文档序号:33248317
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本公开实施例公开了一种半导体封装结构及其形成方法,其中,所述半导体封装结构包括:第一半导体芯片;所述第一半导体芯片的表面形成有多个第一接触垫;介质层,位于所述第一半导体芯片上;所述介质层内形成有多个第二接触垫;第二半导体芯片堆叠结构,位于所...
该专利属于长鑫存储技术有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过长鑫存储技术有限公司授权不得商用。
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