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半导体结构及制备方法技术
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文档序号:33247811
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本申请实施例提供一种半导体结构及制备方法,其中,所述半导体结构包括:堆叠结构,所述堆叠结构包括位于衬底表面且依次堆叠的介电层、隔离层、金属层和多晶硅层;其中,所述隔离层的材料包括MX,M表示金属元素,X至少表示为以下其中一种:氧元素或氮元素...
该专利属于长鑫存储技术有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过长鑫存储技术有限公司授权不得商用。
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