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升降销的接触位置调整方法及检测方法和基片载置机构技术
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文档序号:33198121
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本发明提供能够自动且高精度地调整升降销相对于载置于基片载置台的基片的接触位置的升降销的接触位置调整方法、升降销的接触位置检测方法和基片载置机构。接触位置调整方法包括下述步骤:在基片载置台上配置基片,在对静电吸盘的电极施加电压而吸附基片的状态...
该专利属于东京毅力科创株式会社所有,仅供学习研究参考,未经过东京毅力科创株式会社授权不得商用。
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