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本发明提供一种用于测试多个被测设备的测试系统，包括：并行耦合到上位机的至少一个测试子系统，每一个所述测试子系统包括耦合到所述上位机的通信设备和至少一个测试设备，并被配置成用于耦合到所述多个被测设备中的一个被测设备，其中，所述上位机为所述至少...
该专利属于安波福电子(苏州)有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过安波福电子(苏州)有限公司授权不得商用。

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