用于测试多个被测设备的测试系统技术方案

本发明专利技术提供一种用于测试多个被测设备的测试系统，包括：并行耦合到上位机的至少一个测试子系统，每一个所述测试子系统包括耦合到所述上位机的通信设备和至少一个测试设备，并被配置成用于耦合到所述多个被测设备中的一个被测设备，其中，所述上位机为所述至少一个测试子系统分配不同的第一地址，并且其中，在每一个所述测试子系统中为所述至少一个测试设备和所述被测设备分配不同的第二地址。设备和所述被测设备分配不同的第二地址。设备和所述被测设备分配不同的第二地址。

【技术实现步骤摘要】
用于测试多个被测设备的测试系统


[0001]本专利技术涉及用于测试多个被测设备的测试系统。

技术介绍

[0002]随着技术的发展，各种电子设备上的电子部件等越来越多，集成度也越来越高，使电子设备的复杂程度不断加大。这些电子部件的可靠性十分重要，直接决定了电子设备甚至整个系统(诸如，使用电子设备的交通工具、机器、装备等等)的安全和运行可靠性。各种严苛的环境条件(例如，运输过程、存放、工作中、气候等等)之类的外部条件，都在考验着电子设备的可靠性。
[0003]根据相关研究，在电子设备产品测试领域，大多数故障都是由于疲劳引起的。所有供应商都希望通过实验室测试，加速模拟产品在气候/电负载压力下的整个生命周期，提前发现产品的缺陷，确保产品在设计寿命内的可靠性。模拟寿命试验是基于现场数据模拟实际使用的加速试验，其用于减少测试电子元件可靠性所需的时间。其中，国际标准化组织(InternationalStandardization Organization；ISO)中有着成熟的测试标准。基于数学模型可以确定各种相关测试参数进行测试以缩短验证的时间和花费本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于测试多个被测设备的测试系统，包括：并行耦合到上位机的至少一个测试子系统，每一个所述测试子系统包括耦合到所述上位机的通信设备和至少一个测试设备，并被配置成用于耦合到所述多个被测设备中的一个被测设备，其中，所述上位机为所述至少一个测试子系统分配不同的第一地址，并且其中，在每一个所述测试子系统中为所述至少一个测试设备和所述被测设备分配不同的第二地址。2.如权利要求1所述的测试系统，其特征在于，所述上位机被配置成用于基于每一个所述测试子系统的通信设备的唯一标识符为所述每一个所述测试子系统分配所述第一地址。3.如权利要求1所述的测试系统，其特征在于，在所述每一个所述测试子系统...

【专利技术属性】
技术研发人员：唐锋，张华峰，徐素珍，
申请(专利权)人：安波福电子苏州有限公司，
类型：发明
国别省市：