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制造极紫外(EUV)光掩模的方法及校正EUV光掩模的方法和装置制造方法及图纸
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下载制造极紫外(EUV)光掩模的方法及校正EUV光掩模的方法和装置的技术资料
文档序号:33120782
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提供了一种方法。所述方法包括:制备掩模坯,掩模坯包括基板、设置在基板上用于反射极紫外光的反射层以及设置在反射层上的光吸收层;通过从光吸收层形成具有目标临界尺寸的多个图案元素来提供光掩模,其中所述多个图案元素包括待校正的校正目标图案元素,并且...
该专利属于三星电子株式会社所有,仅供学习研究参考,未经过三星电子株式会社授权不得商用。
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