温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

使用断层成像设备研究样品的方法。一种使用断层成像研究样品的方法，其包括以下步骤：提供样品和源；将来自所述源的辐射束引导到所述样品；以及检测透射穿过所述样品的辐射通量。所述方法进一步包括以下步骤：移动所述样品和所述源中的至少一个以用于提供所述...
该专利属于FEI公司所有，仅供学习研究参考，未经过FEI公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。