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本发明提供了一种元器件引脚成形参数的验证的方法和装置，该方法包括以下步骤：S101：对所述元器件进行测量，获得第一测量数据S102：根据所述第一测量数据计算第一参数，判断所述第一参数是否满足第一预设要求；S103：接收所述元器件的工艺参数，...
该专利属于中国科学院长春光学精密机械与物理研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院长春光学精密机械与物理研究所授权不得商用。

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