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套刻标记及其形成方法技术
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文档序号:33030975
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本发明涉及半导体制造技术领域,尤其涉及一种套刻标记及其形成方法。所述套刻标记包括:第一组衍射套刻标记,包括呈周期性排布的多个第一标记、以及位于所述第一标记上方且呈周期性排布的多个第二标记;第二组衍射套刻标记,包括呈周期性排布的多个所述第二标...
该专利属于长江存储科技有限责任公司所有,仅供学习研究参考,未经过长江存储科技有限责任公司授权不得商用。
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