专利查询
首页
专利评估
登录
注册
当前位置:
首页
>
专利查询
>
三星电子株式会社
>
半导体存储器件、测试半导体存储器件的方法和测试系统技术方案
>技术资料下载
下载半导体存储器件、测试半导体存储器件的方法和测试系统的技术资料
文档序号:32804973
温馨提示:您尚未登录,请点
登陆
后下载,如果您还没有账户请点
注册
,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。
一种包括在由划线道划分并形成在晶片的上表面上的多个芯片之中的每一个芯片中的半导体存储器件包括存储器核心和内置自测试(BIST)电路。存储器核心包括存储数据的存储单元阵列和连接到数据输入/输出焊盘的数据输入/输出电路。BIST电路连接到与数据...
该专利属于三星电子株式会社所有,仅供学习研究参考,未经过三星电子株式会社授权不得商用。
详细技术文档下载地址
温馨提示:您尚未登录,请点
登陆
后下载,如果您还没有账户请点
注册
,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。