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本发明公开了一种具有高性能高效率的晶圆测试探针台，包括一号安装台，所述一号安装台上设置有横向纵向调节台，所述横向纵向调节台上设置有工作台，所述工作台的后侧位置设置有后部支架，所述后部支架上设置有观察镜筒，所述一号安装台上在位于工作台的两侧位...
该专利属于广东万维半导体技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过广东万维半导体技术有限公司授权不得商用。

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