温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

基于深度学习和图像处理的光学元件表面损伤识别方法，涉及元件表面损伤识别技术领域，用以解决现有技术中对于大口径元件表面损伤识别准确率较低的问题。本发明的技术要点包括：提出了光学元件表面缺陷和污染物数据的自动采集和标注方法，提高了数据集的获取效...
该专利属于哈尔滨工业大学所有，仅供学习研究参考，未经过哈尔滨工业大学授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。