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具有耐缺陷冗余性的集成电路及其测试方法技术
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下载具有耐缺陷冗余性的集成电路及其测试方法的技术资料
文档序号:3238792
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为了提高制造产量在集成电路上使用冗余电路的电路、方法和设备。本发明的一个典型实施例提供了一种电路结构,其中通过多路转接器选择一组电路块中起作用的电路块。该组电路块的输入和输出处的多路转接器操纵到达和来自起作用的电路块的输入和输出信号,以避开...
该专利属于辉达公司所有,仅供学习研究参考,未经过辉达公司授权不得商用。
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