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本发明的发光检测装置由聚光透镜阵列的各聚光透镜个别地对来自发光点阵列的各发光点的发光进行聚光使之成为光束并使各光束并列地射入传感器从而进行检测，该发光检测装置通过使各发光点的直径、各聚光透镜的焦距、间隔、各聚光透镜与传感器的光路长度之间满足...
该专利属于株式会社日立高新技术所有，仅供学习研究参考，未经过株式会社日立高新技术授权不得商用。

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