发光检测装置制造方法及图纸

本发明专利技术的发光检测装置由聚光透镜阵列的各聚光透镜个别地对来自发光点阵列的各发光点的发光进行聚光使之成为光束并使各光束并列地射入传感器从而进行检测，该发光检测装置通过使各发光点的直径、各聚光透镜的焦距、间隔、各聚光透镜与传感器的光路长度之间满足预定关系，来使发光检测装置变得小型，同时实现高灵敏度和低串扰。高灵敏度和低串扰。高灵敏度和低串扰。

【技术实现步骤摘要】
发光检测装置
[0001]本申请为分案申请；其母案的申请号为“2016800812872”，专利技术名称为“发光检测装置”。


[0002]本专利技术涉及检测装置，该检测装置向设于多个毛细管或者微型芯片内部的多个通道照射激光束、灯等的光，并且高灵敏度地检测存在于毛细管或者通道的内部的物质所射出的荧光、磷光、散射光、或者透射光等。

技术介绍

[0003]广泛地利用如下毛细管阵列DNA测序仪：通过并列处理对填充有分离介质的多个毛细管(外径100～400μm，内径25～100μm的玻璃毛细管)的电泳分析，来在各个毛细管中一并地进行不同的DNA样本的碱基排列解读。在下文中对该机构进行说明。由于市场销售的毛细管具有柔软性，所以在外表面形成有聚酰亚胺的覆盖膜。将各毛细管的电泳路径长度恒定的部分、例如毛细管的离试料注入端30cm的距离的位置附近以除去覆盖膜后的状态对齐地排列在同一平面上，并且沿上述的毛细管排列平面从侧面方向照射激光束，从而同时照射多个毛细管。以下，在本说明书中，有时将上述的毛细管排列平面简单地称作排列平面。在上述的各毛细管内部进行电泳的本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种发光检测装置，其特征在于，具有：聚光透镜阵列，其排列有M个聚光透镜，该M个聚光透镜对来自排列有M个发光点的发光点阵列的发光分别个别地进行聚光使之成为光束，其中M≥2；光学元件，其使M个上述光束分别偏转而成为偏转光束；以及至少一个传感器，其使M个上述偏转光束并列地射入，将上述M个聚光透镜所聚光的来自上述M个发光点的各发光的发光区域的全宽设为d，将上述M个聚光透镜的焦距设为f，将上述M个聚光透镜的间隔设为p，并将上述M个聚光透镜与M个上述光束射入的上述光学元件的端面之间的最大光路长度设为g，此时，至少与上述M个发光点的任一个相关的d、f、p、g满足下述关系：f≥1/((2
×
p)/(1.27
×
d)+1)
×
g。2.根据权利要求1所述的发光检测装置，其特征在于，满足f≥1/(p/d+1)
×
g。3.根据权利要求1或2所述的发光检测装置，其特征在于，满足f≤2
×
p。4.根据权利要求1或2所述的发光检测装置，其特征在于，满足f≤p。5.根据权利要求1或2所述的发光检测装置，其特征在于，具有针孔阵列，该针孔阵列具备分别与上述M个聚光透镜位置一致地排列的M个针孔，上述M个发光点至少由一个发光区域的一部分发光构成。6.一种发光检测装置，其特征在于，具有：聚光透镜阵列，其排列有M个聚光透镜，该M个聚光透镜对来自排列有M个发光点的发光点阵列的发光分别个别地进行聚光使之成为光束，其中M≥2；再聚光透镜阵列，其排列有M个再聚光透镜，该M个再聚光透镜M个上...

【专利技术属性】
技术研发人员：穴泽隆，山崎基博，
申请(专利权)人：株式会社日立高新技术，
类型：发明
国别省市：