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半导体存储装置，包括成为擦除时的单位的多个块核心、用于在缺陷产生时置换为这些块核心中的存储器单元阵列的Ｒ／Ｄ块核心、存储缺陷块核心地址的Ｒ／Ｄ地址存储部及把该Ｒ／Ｄ地址存储部的输出信号和块地址缓冲器的输出信号进行比较的Ｒ／Ｄ地址比较部。在比...
该专利属于株式会社东芝所有，仅供学习研究参考，未经过株式会社东芝授权不得商用。

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