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本发明提供了一种存储寿命的计算方法以及闪存存储器，计算方法包括：分别获取被置于多个测试环境中的多个相同的待测器件的数据保存性能参数在操作时间上的分布曲线，其中，每个测试环境的操作温度不同，待测器件具有预设数据保存性能标准线，之后，根据多条分...
该专利属于长江存储科技有限责任公司所有，仅供学习研究参考，未经过长江存储科技有限责任公司授权不得商用。

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