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具有闸极堆叠介电层的半导体内存组件的制作方法技术
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文档序号:3214633
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一种具有闸极堆叠介电层的半导体内存组件的制作方法,它包括:一第一介电层形成于具有一第一导电性的一半导体基底上,一第一导电层形成于第一介电层上,一第二介电层形成于第一导电层上,其中第二介电层依序堆叠形成一第一二氧化硅层、一氮化硅层、一氮氧化硅...
该专利属于旺宏电子股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过旺宏电子股份有限公司授权不得商用。
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