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纵型半导体器件制造技术
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文档序号:3214615
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本发明半导体器件,通过有效降低漂移电阻分量,可大幅度降低导通电阻。半导体器件具备:第一导电型漏极(12);设置在漏极层上的第一导电型漂移层(8);设置在漂移层上的第二导电型基极层(10);设置在基极层上的第一导电型源极区域(16);和具有贯...
该专利属于株式会社东芝所有,仅供学习研究参考,未经过株式会社东芝授权不得商用。
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