下载减少去除光阻所致缺点形成高品质多厚度氧化物层的方法的技术资料

文档序号:3213951

温馨提示:您尚未登录,请点 登陆 后下载,如果您还没有账户请点 注册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。

一种藉由减少去除光阻所致缺点以形成具有不同厚度的高品质氧化物层的方法。半导体基板接受反应性离子蚀刻。该半导体基板包括一晶圆(4),一氧化物层(2)于该晶圆上,以及一包封光阻掩膜(8)于该氧化物层上。然后氧化物层(2)经蚀刻,而剩蚀的光阻掩膜...
该专利属于飞索股份有限公司;富士通株式会社所有,仅供学习研究参考,未经过飞索股份有限公司;富士通株式会社授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示:您尚未登录,请点 登陆 后下载,如果您还没有账户请点 注册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。