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本发明提供一种测量大口径平面光学元件表面平均高反射率的方法，将特定口径的单色平行光束注入平行平面型初始腔，利用探测器记录初始腔衰荡信号，提取初始腔光腔衰荡时间常数t0；在初始腔中加入待测大口径光学元件构成折叠型测试腔，提取测试腔衰荡时间常数...
该专利属于中国科学院光电技术研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院光电技术研究所授权不得商用。

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