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本发明公开了将晶片定位到化学机械抛光设备上的晶片定位环,它可以防止晶片受到损害,它具有优良的耐磨耗性,可以减少更换的工作,从而实现抛光晶片的规模生产。在用于化学机械抛光设备的晶片定位环的表面上,其中至少与晶片接触的部分,由包括至少30重量%...该专利属于AZ电子材料(日本)株式会社所有,仅供学习研究参考,未经过AZ电子材料(日本)株式会社授权不得商用。
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本发明公开了将晶片定位到化学机械抛光设备上的晶片定位环,它可以防止晶片受到损害,它具有优良的耐磨耗性,可以减少更换的工作,从而实现抛光晶片的规模生产。在用于化学机械抛光设备的晶片定位环的表面上,其中至少与晶片接触的部分,由包括至少30重量%...