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半导体装置及其制造方法制造方法及图纸
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文档序号:3206019
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提供一种半导体装置及其制造方法。用旋转离子注入法将As及B注入槽(3)的侧面中,通过利用扩散系数的不同,将被槽(3)夹在中间的n↑[-]型外延Si层变成由沿横向排列的n型柱层(5)/p型柱层(4)/n型柱层(5)构成的、实际上具有与超结型结...
该专利属于株式会社东芝所有,仅供学习研究参考,未经过株式会社东芝授权不得商用。
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