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接触孔洞光学邻近效应修正和掩模及半导体装置制造方法制造方法及图纸
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文档序号:3205625
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一种接触孔洞的光学邻近效应的修正方法,其特征包括: 提供一测试光掩模,其上设置至少一间距和至少一光掩模关键尺寸的组合的多个第一孔洞图案; 以该测试光掩模对一测试光阻层进行曝光显影,以于该测试光阻层中形成对应于该些第一孔洞图案的多...
该专利属于南亚科技股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过南亚科技股份有限公司授权不得商用。
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