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本实用新型属于半导体公头连接器技术领域，尤其为一种测试半导体公头连接器的测试探针，包括第一针头和探针管，所述探针管内部的两端开设有开口的中空腔，所述第一针头的下端设置有插入部。第一针头头部结构与产品接触用片状凹凸波浪结构，与产品的接触可靠性...
该专利属于深圳芯经纬科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳芯经纬科技有限公司授权不得商用。

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