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为改善相邻存储单元干扰的ONO闪存阵列制造技术
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下载为改善相邻存储单元干扰的ONO闪存阵列的技术资料
文档序号:3204706
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一种为改善相邻记忆胞元干扰的ONO闪存数组,其特征在于,包括: 一基底,具有一第一及第二埋藏扩散区; 一信道,在该第一及第二埋藏扩散区之间; 一ONO层,在该信道上方,供储存数据; 一第一口袋,在该信道一侧,与该第一...
该专利属于旺宏电子股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过旺宏电子股份有限公司授权不得商用。
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