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提供用于动态调节与要测量的晶片（或其它装置）相关的取样方案的系统、方法和介质。取样方案提供管芯内特殊测量点的信息，管芯是晶片上的一部分并最终在加工后成为单个的芯片。在管芯内有候补用于测量的特殊点。可以恢复存储的管芯布局图并将其翻译成确定用于...
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