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用于探测基片的斜角传感器制造技术
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下载用于探测基片的斜角传感器的技术资料
文档序号:3200423
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在本发明的第一方面中,提供了一种用于探测基片的装置。该装置包括(1)发射器/接收器单元,其适合于发射光束通过位于转移室内的基片;(2)反射器,其适合于接收从发射器/接收器单元发射的光束并向发射器/接收器单元反射该发射光束;和(3)控制器,其...
该专利属于应用材料有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过应用材料有限公司授权不得商用。
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