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电荷陷入非易失存储单元及其阵列的编程方法技术
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文档序号:3194430
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本发明披露一种上升V↓[s]通道起始二次电子注入(CHISEL)程序化方法,用来程序化电荷陷入非易失性存储单元。在该程序化方法中,一个正源极电压会施加至电荷陷入非易失性存储单元的源极,一个正漏极电压会施加至电荷陷入非易失性存储单元的漏极,其...
该专利属于旺宏电子股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过旺宏电子股份有限公司授权不得商用。
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