专利查询
首页
专利评估
登录
注册
当前位置:
首页
>
专利查询
>
旺宏电子股份有限公司
>
电荷陷入式存储单元的操作方法以及电荷陷入式集成电路技术
>技术资料下载
下载电荷陷入式存储单元的操作方法以及电荷陷入式集成电路的技术资料
文档序号:3194429
温馨提示:您尚未登录,请点
登陆
后下载,如果您还没有账户请点
注册
,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。
一种具有可储存多个位的电荷陷入结构的存储单元。一个高临界偏压配置会施加在存储单元的电荷陷入结构的一部分上以储存高临界状态,且一个低临界偏压配置会施加在电荷陷入结构的其它部分上以提高其临界电压来储存低临界状态,但并不超过低临界状态的最高临界电...
该专利属于旺宏电子股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过旺宏电子股份有限公司授权不得商用。
详细技术文档下载地址
温馨提示:您尚未登录,请点
登陆
后下载,如果您还没有账户请点
注册
,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。