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非易失性半导体存储装置制造方法及图纸
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文档序号:3191004
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在非易失性存储单元(MC;MC0,MC1)中,与存储单元晶体管(MT)串联连接选择晶体管(ST)。该选择晶体管为2层栅极结构,分别驱动各栅极(G1,G2)的电压。使用这些选择晶体管的层叠栅极电极间的电容耦合,将选择晶体管的栅极电位设定为预定...
该专利属于株式会社瑞萨科技所有,仅供学习研究参考,未经过株式会社瑞萨科技授权不得商用。
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